Máy XRF – SpectraX 55
Giải pháp đa năng và tối ưu cho cho nhu cầu kiểm tra, phân tích lớp mạ nhanh, chính xác
Máy đo độ dày lớp phủ SpectraX 55 là thiết bị phân tích tiên tiến, được thiết kế để đáp ứng nhu cầu kiểm tra và phân tích lớp phủ trong nhiều ngành công nghiệp khác nhau. Với khả năng đo độ dày lớp phủ đa lớp lên đến 4 lớp mạ và 1 lớp nền, SpectraX 55 mang đến độ chính xác cao và hiệu suất vượt trội, đặc biệt trong việc đo độ dày lớp mạ đồng thời phân tích thành phần lớp phủ một cách chi tiết và chính xác.
Thông số kỹ thuật SpectraX 55:
| Độ chính xác đo bề dày lớp mạ | 0.001μm |
| Khoảng phân tích nguyên tố | Từ S đến U |
| Thời gian đo | 10~30 giây |
| Nguồn X-ray | 50kV/1mA, target Mo/W |
| Hệ thống Detector | SDD, độ phân giải 125±5eV |
| Multi collimators | 0.1, 0.2, 0.3, 0.5, 1.0, 4.0 (mm), tự động chuyển đổi |
| Filter | 6 loại |
| Kích thước bên ngoài (WxDxH) | 618 × 525 × 490 (mm) |
| Kích thước mâm đo | 250 × 220mm |
| Di chuyển XYZ | 80 × 80 × 90mm |
| Trọng lượng | 85kg |
| Phần mềm phân tích (chính) | Phần mềm phân tích định tính và định lượng FP |
| Góc chiếu tia X | 90°, chiếu từ trên xuống |
| Camera giám sát | CCD 2MP, hỗ trợ căn chỉnh chính xác |
| Phần mềm | – Đa năng đo lớp xi và phân tích thành phần lớp xi
– Thông minh dành riêng cho RoHS |
Ứng dụng đa dạng:
– Điện tử & PCB: Đo bề dày lớp mạ trên bảng mạch và linh kiện điện tử.
– Công nghiệp & sản xuất linh kiện: Kiểm tra lớp mạ và phân tích Pb, Hg, Cd, Br, As, Sb, S theo tiêu chuẩn môi trường.
– Ngành kim hoàn: Đo bề dày lớp mạ vàng, bạc, Rhodium, Platin trên trang sức.
Đánh giá
Chưa có đánh giá nào.