Máy XRF – SpectraX 55

Giải pháp đa năng và tối ưu cho cho nhu cầu kiểm tra, phân tích lớp mạ
nhanh, chính xác

Máy đo độ dày lớp phủ SpectraX 55 là thiết bị phân tích tiên tiến, được thiết kế để đáp
ứng nhu cầu kiểm tra và phân tích lớp phủ trong nhiều ngành công nghiệp khác nhau. Với
khả năng đo độ dày lớp phủ đa lớp lên đến 4 lớp mạ và 1 lớp nền, SpectraX 55 mang
đến độ chính xác cao và hiệu suất vượt trội, đặc biệt trong việc đo độ dày lớp mạ đồng thời
phân tích thành phần lớp phủ một cách chi tiết và chính xác.