Máy XRF đo bề dày lớp xi mạ – SpectraX 45

SpectraX 45 – Giải pháp đa năng và tối ưu cho cho nhu cầu kiểm tra, phân tích lớp mạ nhanh, chính xác

Máy đo độ dày lớp phủ SpectraX 45 là thiết bị phân tích tiên tiến, được thiết kế để đáp ứng nhu cầu kiểm tra và phân tích lớp phủ trong nhiều ngành công nghiệp khác nhau, với khả năng đo độ dày lớp phủ đa lớp lên đến 4 lớp mạ và 1 lớp nền.

• Sử dụng buồng mẫu chân không.
• Chuyên dụng cho phân tích lớp phủ mạ kim loại.
• Sử dụng nhiều kỹ thuật xử lý và phân tích quang phổ tiên tiến.
• Có thể bổ sung chức năng phân tích thành phần hợp kim và RoHS.

Thông số kỹ thuật SpectraX 45 :

• Độ chính xác đo bề dày lớp mạ : 0.001μm
• Khoảng phân tích nguyên tố Từ : Al đến U
• Thời gian đo : 10~30 giây
• Nguồn X-ray : 50kV/1mA, target Mo/W
• Hệ thống detector : SDD, độ phân giải 125±5eV
• Collimators : 0.2, 0.3, 0.5, tùy chọn
• Kích thước bên ngoài (WxDxH) : 618 × 525 × 490 (mm)
• Kích thước buồng đo : 200 × 200mm
• Bàn đặt mẫu : Thao tác thủ công
• Hệ thống chiếu tia X : Chiếu từ trên xuống
• Phần mềm phân tích (chính) : Phần mềm phân tích định tính và định lượng FP/MLSQ
• Camera giám sát : CCD 2MP, hỗ trợ căn chỉnh chính xác

Lĩnh vực ứng dụng :

• Phân tích độ dày lớp phủ mạ kim loại
• Mạ điện kim loại, mạ điện linh kiện ô tô, v.v.